界面および粒界

J. W. Cahn (NIST/Univ. Washington)
S. J. Pennycook (ORNL/Vanderbilt Univ.)
F. Ernst (Case Western Reserve Univ.)
M. Rühle (MPI für Metallforschung)
N. D. Browning (LLNL/UCDavis)
C. B. Carter (Univ. Conneticut)
Y. Ikuhara (Univ. Tokyo / JFCC)

電子線ホログラフィーおよびローレンツ顕微鏡　

A. Tonomura (Hitachi Ltd.)
H. Lichte (TU Dresden)
D. Shindo (Tohoku Univ.)
J. Chapman (Univ. Glasgow)
Y. Zhu (BNL/Stony Brook Univ.)
T. Hirayama (JFCC)

環境TEM

R. Dunin-Borkowski (Technical Univ. Denmark)
P. L. Gai (Univ. York)
N. Tanaka (Nagoya Univ.)

モデリング・シミュレーション

J. Hafner (Univ. Vienna)
S. H. Wei　(NREL)
D. Vanderbilt (Rutgers Univ.)
M. Finnis (Imperial College London)
W. Y. Ching (Univ. Missouri-Kansas City)
A. Shluger (University College London / Tohoku Univ.)
K. Matsunaga (Kyoto Univ./JFCC)
I. Tanaka (Kyoto Univ. / JFCC)

AMTC2 特別テーマ ～材料科学のフロンティア～

S. Iijima (Meijo Univ.)
K. Kitazawa (JST)
H. Hosono (Tokyo Tech)
T. Norby (Univ. Oslo)
S. J. L. Kang (KAIST)
X. Pan (Univ. Michigan)